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LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組 信號(hào)分析儀LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組專(zhuān)門(mén)為近場(chǎng)測(cè)試設(shè)計(jì)的探頭，電磁兼容工程師*的基本工具，用于在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間探測(cè)PCB的電磁場(chǎng)情況
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電磁干擾發(fā)射探頭電磁干擾發(fā)射探頭P600 / P750 set 的測(cè)量結(jié)果保證了測(cè)量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性。可以使用ChipScan-ESA軟件進(jìn)行測(cè)量。所有被測(cè)引腳的測(cè)量結(jié)果通過(guò)軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
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電磁干擾發(fā)射探頭電磁干擾發(fā)射探頭S603 / S750 set 的測(cè)量結(jié)果保證了測(cè)量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性。可以使用ChipScan-ESA軟件進(jìn)行測(cè)量。所有被測(cè)引腳的測(cè)量結(jié)果通過(guò)軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
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電磁干擾發(fā)射探頭組電磁干擾發(fā)射探頭組P603 / P750 set ，該探頭組能夠接觸到測(cè)試IC的每個(gè)引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測(cè)量重復(fù)精度和測(cè)量的可比較性。
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電磁干擾發(fā)射探頭組電磁干擾發(fā)射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量,該探頭套組用于測(cè)量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進(jìn)行測(cè)量）。
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